Пропуск в контексте
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Язык
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
High angle dark field STEM for...
Цитировать
Отправить по sms
Отправить на Email
Печать
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNoteWeb
Экспорт в EndNote
Постоянная ссылка
High angle dark field STEM for advanced materials
Библиографические подробности
Главные авторы:
Pennycook, S
,
Jesson, D
,
McGibbon, A
,
Nellist, P
Формат:
Journal article
Опубликовано:
1996
Фонды
Описание
Схожие документы
Marc-запись
Описание
Итог:
Схожие документы
Microanalysis at the atomic level
по: Pennycook, S, и др.
Опубликовано: (1995)
Subangstrom resolution imaging using annular dark-field STEM
по: Nellist, P, и др.
Опубликовано: (1999)
The principles and interpretation of annular dark-field Z-contrast imaging
по: Nellist, P, и др.
Опубликовано: (2000)
Towards quantitative analysis of core-shell catalyst nanoparticles by aberration corrected high angle annular dark field STEM and EDX
по: E, H, и др.
Опубликовано: (2010)
Towards quantitative analysis of core-shell catalyst nano-particles by aberration corrected high angle annular dark field STEM and EDX
по: E, H, и др.
Опубликовано: (2010)