Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
High angle dark field STEM for...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
High angle dark field STEM for advanced materials
Бібліографічні деталі
Автори:
Pennycook, S
,
Jesson, D
,
McGibbon, A
,
Nellist, P
Формат:
Journal article
Опубліковано:
1996
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Опис
Резюме:
Схожі ресурси
Microanalysis at the atomic level
за авторством: Pennycook, S, та інші
Опубліковано: (1995)
Subangstrom resolution imaging using annular dark-field STEM
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (1999)
The principles and interpretation of annular dark-field Z-contrast imaging
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (2000)
Towards quantitative analysis of core-shell catalyst nanoparticles by aberration corrected high angle annular dark field STEM and EDX
за авторством: E, H, та інші
Опубліковано: (2010)
Towards quantitative analysis of core-shell catalyst nano-particles by aberration corrected high angle annular dark field STEM and EDX
за авторством: E, H, та інші
Опубліковано: (2010)