Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Ngôn ngữ
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
High angle dark field STEM for...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
High angle dark field STEM for advanced materials
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:
Pennycook, S
,
Jesson, D
,
McGibbon, A
,
Nellist, P
Định dạng:
Journal article
Được phát hành:
1996
Đang giữ
Miêu tả
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Miêu tả
Tóm tắt:
Những quyển sách tương tự
Microanalysis at the atomic level
Bằng: Pennycook, S, et al.
Được phát hành: (1995)
Subangstrom resolution imaging using annular dark-field STEM
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (1999)
The principles and interpretation of annular dark-field Z-contrast imaging
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (2000)
Towards quantitative analysis of core-shell catalyst nanoparticles by aberration corrected high angle annular dark field STEM and EDX
Bằng: E, H, et al.
Được phát hành: (2010)
Towards quantitative analysis of core-shell catalyst nano-particles by aberration corrected high angle annular dark field STEM and EDX
Bằng: E, H, et al.
Được phát hành: (2010)