Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
High angle dark field STEM for...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
High angle dark field STEM for advanced materials
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:
Pennycook, S
,
Jesson, D
,
McGibbon, A
,
Nellist, P
Μορφή:
Journal article
Έκδοση:
1996
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Microanalysis at the atomic level
ανά: Pennycook, S, κ.ά.
Έκδοση: (1995)
Subangstrom resolution imaging using annular dark-field STEM
ανά: Nellist, P, κ.ά.
Έκδοση: (1999)
Towards quantitative analysis of core-shell catalyst nanoparticles by aberration corrected high angle annular dark field STEM and EDX
ανά: E, H, κ.ά.
Έκδοση: (2010)
The principles and interpretation of annular dark-field Z-contrast imaging
ανά: Nellist, P, κ.ά.
Έκδοση: (2000)
Towards quantitative analysis of core-shell catalyst nano-particles by aberration corrected high angle annular dark field STEM and EDX
ανά: E, H, κ.ά.
Έκδοση: (2010)