Ga door naar de inhoud
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Taal
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
HIGH-RESOLUTION X-RAY-SCATTERI...
Citeren
SMS dit
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
Permalink
HIGH-RESOLUTION X-RAY-SCATTERING STUDY OF THE STRUCTURE OF NIOBIUM THIN-FILMS ON SAPPHIRE
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:
Gibaud, A
,
Cowley, R
,
Mcmorrow, D
,
Ward, R
,
Wells, M
Formaat:
Journal article
Gepubliceerd in:
1993
Exemplaren
Omschrijving
Gelijkaardige items
Personeel
Gelijkaardige items
STRUCTURE OF NIOBIUM THIN-FILMS ON SAPPHIRE
door: Mcmorrow, D, et al.
Gepubliceerd in: (1993)
The structure of epitaxially grown thin films: a study of niobium on sapphire
door: Wildes, A, et al.
Gepubliceerd in: (1998)
The chemical structure of rare earth superlattices: A high-resolution x-ray scattering study
door: McMorrow, D, et al.
Gepubliceerd in: (1996)
The magnetic structures of HoxTm1-x thin film alloys
door: Sarthour, R, et al.
Gepubliceerd in: (2001)
Thin film analysis by x-ray scattering /
door: 195147 Birkholz, Mario, et al.
Gepubliceerd in: (2006)