Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
MICROSTRUCTURAL OBSERVATIONS O...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
MICROSTRUCTURAL OBSERVATIONS OF TA/AL SUPERLATTICES BY TEM
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:
Jiang, S
,
Zou, J
,
Cockayne, D
,
Sikorski, A
,
Hu, A
,
Peng, R
Μορφή:
Journal article
Έκδοση:
1992
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
AN ELECTRON-DIFFRACTION AND MICROSCOPY INVESTIGATION OF QUASI-PERIODIC TA-AL SUPERLATTICES
ανά: Jiang, S, κ.ά.
Έκδοση: (1992)
Diffraction behaviour of three-component Fibonacci Ta/Al multilayer films
ανά: Jiang, S, κ.ά.
Έκδοση: (1997)
TEM study of compositional profile in AlGaAs/GaAs quantum wells
ανά: Zou, J, κ.ά.
Έκδοση: (1998)
TEM study of intermetallic phases in 55Al-Zn coatings
ανά: Zou, J, κ.ά.
Έκδοση: (1998)
TEM studies of misfit dislocations in strained-layer heterostructures
ανά: Zou, J, κ.ά.
Έκδοση: (1994)