تخطي إلى المحتوى
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
اللغة
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
MICROSTRUCTURAL OBSERVATIONS O...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
رابط دائم
MICROSTRUCTURAL OBSERVATIONS OF TA/AL SUPERLATTICES BY TEM
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:
Jiang, S
,
Zou, J
,
Cockayne, D
,
Sikorski, A
,
Hu, A
,
Peng, R
التنسيق:
Journal article
منشور في:
1992
المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
مواد مشابهة
AN ELECTRON-DIFFRACTION AND MICROSCOPY INVESTIGATION OF QUASI-PERIODIC TA-AL SUPERLATTICES
حسب: Jiang, S, وآخرون
منشور في: (1992)
Diffraction behaviour of three-component Fibonacci Ta/Al multilayer films
حسب: Jiang, S, وآخرون
منشور في: (1997)
TEM study of compositional profile in AlGaAs/GaAs quantum wells
حسب: Zou, J, وآخرون
منشور في: (1998)
TEM study of intermetallic phases in 55Al-Zn coatings
حسب: Zou, J, وآخرون
منشور في: (1998)
TEM studies of misfit dislocations in strained-layer heterostructures
حسب: Zou, J, وآخرون
منشور في: (1994)