Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
MICROSTRUCTURAL OBSERVATIONS O...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
MICROSTRUCTURAL OBSERVATIONS OF TA/AL SUPERLATTICES BY TEM
Dades bibliogràfiques
Autors principals:
Jiang, S
,
Zou, J
,
Cockayne, D
,
Sikorski, A
,
Hu, A
,
Peng, R
Format:
Journal article
Publicat:
1992
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
AN ELECTRON-DIFFRACTION AND MICROSCOPY INVESTIGATION OF QUASI-PERIODIC TA-AL SUPERLATTICES
per: Jiang, S, et al.
Publicat: (1992)
Diffraction behaviour of three-component Fibonacci Ta/Al multilayer films
per: Jiang, S, et al.
Publicat: (1997)
TEM study of compositional profile in AlGaAs/GaAs quantum wells
per: Zou, J, et al.
Publicat: (1998)
TEM study of intermetallic phases in 55Al-Zn coatings
per: Zou, J, et al.
Publicat: (1998)
TEM studies of misfit dislocations in strained-layer heterostructures
per: Zou, J, et al.
Publicat: (1994)