Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
MICROSTRUCTURAL OBSERVATIONS O...
Vytvořit citaci
Zaslat SMS
Poslat e-mailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Trvalý odkaz
MICROSTRUCTURAL OBSERVATIONS OF TA/AL SUPERLATTICES BY TEM
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:
Jiang, S
,
Zou, J
,
Cockayne, D
,
Sikorski, A
,
Hu, A
,
Peng, R
Médium:
Journal article
Vydáno:
1992
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Podobné jednotky
AN ELECTRON-DIFFRACTION AND MICROSCOPY INVESTIGATION OF QUASI-PERIODIC TA-AL SUPERLATTICES
Autor: Jiang, S, a další
Vydáno: (1992)
Diffraction behaviour of three-component Fibonacci Ta/Al multilayer films
Autor: Jiang, S, a další
Vydáno: (1997)
TEM study of compositional profile in AlGaAs/GaAs quantum wells
Autor: Zou, J, a další
Vydáno: (1998)
TEM study of intermetallic phases in 55Al-Zn coatings
Autor: Zou, J, a další
Vydáno: (1998)
TEM studies of misfit dislocations in strained-layer heterostructures
Autor: Zou, J, a další
Vydáno: (1994)