Siirry sisältöön
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Kieli
Kaikki kentät
Nimeke
Tekijä
Aihe
Hyllypaikka
ISBN/ISSN
Tagi
Hae
Tarkennettu
MICROSTRUCTURAL OBSERVATIONS O...
Sitaatti
Tekstiviesti
Lähetä sähköpostilla
Tulosta
Vie tietue
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Pysyvä linkki
MICROSTRUCTURAL OBSERVATIONS OF TA/AL SUPERLATTICES BY TEM
Bibliografiset tiedot
Päätekijät:
Jiang, S
,
Zou, J
,
Cockayne, D
,
Sikorski, A
,
Hu, A
,
Peng, R
Aineistotyyppi:
Journal article
Julkaistu:
1992
Saatavuustiedot
Kuvaus
Samankaltaisia teoksia
Henkilökuntanäyttö
Samankaltaisia teoksia
AN ELECTRON-DIFFRACTION AND MICROSCOPY INVESTIGATION OF QUASI-PERIODIC TA-AL SUPERLATTICES
Tekijä: Jiang, S, et al.
Julkaistu: (1992)
Diffraction behaviour of three-component Fibonacci Ta/Al multilayer films
Tekijä: Jiang, S, et al.
Julkaistu: (1997)
TEM study of compositional profile in AlGaAs/GaAs quantum wells
Tekijä: Zou, J, et al.
Julkaistu: (1998)
TEM study of intermetallic phases in 55Al-Zn coatings
Tekijä: Zou, J, et al.
Julkaistu: (1998)
TEM studies of misfit dislocations in strained-layer heterostructures
Tekijä: Zou, J, et al.
Julkaistu: (1994)