İçeriği atla
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Dil
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Etiket
Ara
Gelişmiş
MICROSTRUCTURAL OBSERVATIONS O...
Alıntıla
Telefona gönder
E-posta Gönder
Yazdır
Kaydı İhraç Et
İhraç Et RefWorks
İhraç Et EndNoteWeb
İhraç Et EndNote
Kalıcı bağlantı
MICROSTRUCTURAL OBSERVATIONS OF TA/AL SUPERLATTICES BY TEM
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar:
Jiang, S
,
Zou, J
,
Cockayne, D
,
Sikorski, A
,
Hu, A
,
Peng, R
Materyal Türü:
Journal article
Baskı/Yayın Bilgisi:
1992
Erişim Bilgileri
Diğer Bilgiler
Benzer Materyaller
MARC Görünümü
Benzer Materyaller
AN ELECTRON-DIFFRACTION AND MICROSCOPY INVESTIGATION OF QUASI-PERIODIC TA-AL SUPERLATTICES
Yazar:: Jiang, S, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1992)
Diffraction behaviour of three-component Fibonacci Ta/Al multilayer films
Yazar:: Jiang, S, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1997)
TEM study of compositional profile in AlGaAs/GaAs quantum wells
Yazar:: Zou, J, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1998)
TEM study of intermetallic phases in 55Al-Zn coatings
Yazar:: Zou, J, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1998)
TEM studies of misfit dislocations in strained-layer heterostructures
Yazar:: Zou, J, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1994)