Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Ngôn ngữ
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
MICROSTRUCTURAL OBSERVATIONS O...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
MICROSTRUCTURAL OBSERVATIONS OF TA/AL SUPERLATTICES BY TEM
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:
Jiang, S
,
Zou, J
,
Cockayne, D
,
Sikorski, A
,
Hu, A
,
Peng, R
Định dạng:
Journal article
Được phát hành:
1992
Đang giữ
Miêu tả
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Những quyển sách tương tự
AN ELECTRON-DIFFRACTION AND MICROSCOPY INVESTIGATION OF QUASI-PERIODIC TA-AL SUPERLATTICES
Bằng: Jiang, S, et al.
Được phát hành: (1992)
Diffraction behaviour of three-component Fibonacci Ta/Al multilayer films
Bằng: Jiang, S, et al.
Được phát hành: (1997)
TEM study of compositional profile in AlGaAs/GaAs quantum wells
Bằng: Zou, J, et al.
Được phát hành: (1998)
TEM study of intermetallic phases in 55Al-Zn coatings
Bằng: Zou, J, et al.
Được phát hành: (1998)
TEM studies of misfit dislocations in strained-layer heterostructures
Bằng: Zou, J, et al.
Được phát hành: (1994)