Kirkland, A., Nellist, P., Chang, L., & Haigh, S. (2008). Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Kirkland, A., P. Nellist, L. Chang, و S. Haigh. Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy. 2008.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Kirkland, A., et al. Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy. 2008.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.