Kirkland, A., Nellist, P., Chang, L., & Haigh, S. (2008). Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy.
Չիկագոյի ոճի (17րդ խմբ.) մեջբերումKirkland, A., P. Nellist, L. Chang, and S. Haigh. Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy. 2008.
MLA (9րդ խմբ.) ՄեջբերումKirkland, A., et al. Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy. 2008.
Զգուշացում. այս մեջբերումները միշտ չէ, որ կարող են 100% ճշգրիտ լինել.