Kirkland, A., Nellist, P., Chang, L., & Haigh, S. (2008). Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Kirkland, A., P. Nellist, L. Chang, và S. Haigh. Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy. 2008.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Kirkland, A., et al. Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy. 2008.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.