Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
Aberration-Corrected Imaging i...
Vytvořit citaci
Zaslat SMS
Poslat e-mailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Trvalý odkaz
Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:
Kirkland, A
,
Nellist, P
,
Chang, L
,
Haigh, S
Médium:
Journal article
Vydáno:
2008
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Popis
Shrnutí:
Podobné jednotky
Chapter 8 Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
Autor: Kirkland, A, a další
Vydáno: (2008)
Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy.
Autor: Dellby, N, a další
Vydáno: (2001)
Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope.
Autor: Nellist, P, a další
Vydáno: (2008)
Three-dimensional imaging using aberration-corrected scanning transmission and confocal electron microscopy
Autor: Cosgriff, E, a další
Vydáno: (2008)
Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
Autor: Nellist, P, a další
Vydáno: (2008)