Przejdź do treści
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Język
Wszystkie pola
Tytuł
Autor
Hasło przedmiotowe
Sygnatura
ISBN / ISSN
Etykieta
Szukaj
Wyszukiwanie zaawansowane
Aberration-Corrected Imaging i...
Cytować
Wyślij wiadomość
Wyślij emailem
Drukuj
Eksportuj rekord
Eksportuj do RefWorks
Eksportuj do EndNoteWeb
Eksportuj do EndNote
Odnośnik bezpośredni
Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
Opis bibliograficzny
Główni autorzy:
Kirkland, A
,
Nellist, P
,
Chang, L
,
Haigh, S
Format:
Journal article
Wydane:
2008
Egzemplarz
Opis
Podobne zapisy
Wersja MARC
Opis
Streszczenie:
Podobne zapisy
Chapter 8 Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
od: Kirkland, A, i wsp.
Wydane: (2008)
Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy.
od: Dellby, N, i wsp.
Wydane: (2001)
Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope.
od: Nellist, P, i wsp.
Wydane: (2008)
Three-dimensional imaging using aberration-corrected scanning transmission and confocal electron microscopy
od: Cosgriff, E, i wsp.
Wydane: (2008)
Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
od: Nellist, P, i wsp.
Wydane: (2008)