Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Kirkland, A, Nellist, P, Chang, L, Haigh, S
Ձևաչափ: Journal article
Հրապարակվել է: 2008

Նմանատիպ նյութեր