Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Kirkland, A, Nellist, P, Chang, L, Haigh, S
Định dạng: Journal article
Được phát hành: 2008

Những quyển sách tương tự