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Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:
Kirkland, A
,
Nellist, P
,
Chang, L
,
Haigh, S
Format:
Journal article
Veröffentlicht:
2008
Exemplare
Beschreibung
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