Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Kirkland, A, Nellist, P, Chang, L, Haigh, S
Μορφή: Journal article
Έκδοση: 2008