Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Aberration-Corrected Imaging i...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:
Kirkland, A
,
Nellist, P
,
Chang, L
,
Haigh, S
Μορφή:
Journal article
Έκδοση:
2008
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Chapter 8 Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
ανά: Kirkland, A, κ.ά.
Έκδοση: (2008)
Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy.
ανά: Dellby, N, κ.ά.
Έκδοση: (2001)
Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope.
ανά: Nellist, P, κ.ά.
Έκδοση: (2008)
Three-dimensional imaging using aberration-corrected scanning transmission and confocal electron microscopy
ανά: Cosgriff, E, κ.ά.
Έκδοση: (2008)
Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
ανά: Nellist, P, κ.ά.
Έκδοση: (2008)