コンテンツを見る
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
言語
全フィールド
タイトル
著者
主題
請求記号
ISBN/ISSN
タグ
検索
詳細検索
Aberration-Corrected Imaging i...
この資料を引用
この資料をSMS送信
この資料をメール
印刷
エクスポート
エクスポート先: RefWorks
エクスポート先: EndNoteWeb
エクスポート先: EndNote
パーマネントリンク
Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
書誌詳細
主要な著者:
Kirkland, A
,
Nellist, P
,
Chang, L
,
Haigh, S
フォーマット:
Journal article
出版事項:
2008
所蔵
その他の書誌記述
類似資料
MARC表示
類似資料
Chapter 8 Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
著者:: Kirkland, A, 等
出版事項: (2008)
Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy.
著者:: Dellby, N, 等
出版事項: (2001)
Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope.
著者:: Nellist, P, 等
出版事項: (2008)
Three-dimensional imaging using aberration-corrected scanning transmission and confocal electron microscopy
著者:: Cosgriff, E, 等
出版事項: (2008)
Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
著者:: Nellist, P, 等
出版事項: (2008)