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Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
Detalhes bibliográficos
Principais autores:
Kirkland, A
,
Nellist, P
,
Chang, L
,
Haigh, S
Formato:
Journal article
Publicado em:
2008
Itens
Descrição
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