KMOS: Assembly, integration and testing of three 0.8-2.5 micron spectrographs

KMOS: Assembly, integration and testing of three 0.8-2.5 micron spectrographs

Εμφάνιση άλλων εκδόσεων (1)
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Masters, R, Lewis, I, Tosh, I, Tecza, M, Lynn, J, Watkins, R, Clack, A, Davies, R, Thatte, N, Tacon, M, Makin, R, Temple, J, Pearce, A
Μορφή: Conference item
Έκδοση: 2010
Περιγραφή
Περίληψη:

Παρόμοια τεκμήρια