Mapping surface elastic properties of stiff and compliant materials on the nanoscale using ultrasonic force microscopy

Mapping surface elastic properties of stiff and compliant materials on the nanoscale using ultrasonic force microscopy

מידע ביבליוגרפי
Main Authors:	Dinelli, F, Castell, M, Ritchie, D, Mason, N, Briggs, G, Kolosov, O
פורמט:	Journal article
יצא לאור:	2000

פריטים דומים

Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
מאת: Dinelli, F, et al.
יצא לאור: (2000)

Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
מאת: Dinelli, F, et al.
יצא לאור: (1999)

Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
מאת: Dinelli, F, et al.
יצא לאור: (1999)

Imaging the elastic nanostructure of Ge islands by ultrasonic force microscopy
מאת: Kolosov, O, et al.
יצא לאור: (1998)

Nanoscale imaging of mechanical properties by ultrasonic force microscopy (UFM)
מאת: Kolosov, O, et al.
יצא לאור: (1996)

Nanoscale Visualization of Elastic Inhomogeneities at TiN Coatings Using Ultrasonic Force Microscopy
מאת: Cuberes MT, et al.
יצא לאור: (2009-01-01)

Characterisation of the nanometer-scale mechanical compliance of semiconductors by Ultrasonic Force Microscopy
מאת: Huey, B, et al.
יצא לאור: (2001)

Measurement of debonding in cracked nanocomposite films by ultrasonic force microscopy
מאת: McGuigan, A, et al.
יצא לאור: (2002)

Heterodyne force microscopy of PMMA/rubber nanocomposites: nanomapping of viscoelastic response at ultrasonic frequencies
מאת: Cuberes, M, et al.
יצא לאור: (2000)

Surface morphology and crystallinity of biaxially stretched PET films on the nanoscale
מאת: Dinelli, F, et al.
יצא לאור: (2000)

Nanoscale Probing of Electrode Surfaces by Scanning Force Microscopy
מאת: David J. Fermín
יצא לאור: (2006-11-01)

Quantitative Nanomechanical Mapping of Polyolefin Elastomer at Nanoscale with Atomic Force Microscopy
מאת: Shuting Zhang, et al.
יצא לאור: (2021-07-01)

Nanoscale spatial mapping of mechanical properties through dynamic atomic force microscopy
מאת: Zahra Abooalizadeh, et al.
יצא לאור: (2019-07-01)

Fracture properties of GaAs-AlAs superlattices studied by atomic force microscopy and scanning electron microscopy
מאת: Castell, M, et al.
יצא לאור: (1998)

Imaging Structures and Measuring Forces at Nanoscales with Atomic Force Microscopy
מאת: Nguyen V. Anh
יצא לאור: (2005-11-01)

Anisotropic elastic characterization of surfaces from 2 MHz to 20 GHz
מאת: Briggs, G, et al.
יצא לאור: (1998)

Life at the nanoscale : atomic force microscopy of live cells /
מאת: Dufrene, Yves
יצא לאור: (c201)

Nanoscale elastic strain mapping of polycrystalline materials
מאת: Paul F. Rottmann, et al.
יצא לאור: (2018-04-01)

Small intestine wall distribution of elastic stiffness measured with 500 MHz scanning acoustic microscopy.
מאת: Jørgensen, C, et al.
יצא לאור: (2001)

Nanoscale photovoltage mapping in CZTSe/CuxSe heterostructure by using kelvin probe force microscopy
מאת: Manoj Vishwakarma, et al.
יצא לאור: (2020-01-01)

Nanoscale mapping of dielectric properties based on surface adhesion force measurements
מאת: Ying Wang, et al.
יצא לאור: (2018-03-01)

Nanoscale determination of phase velocity by scanning acoustic force microscopy
מאת: Chilla, E, et al.
יצא לאור: (1997)

Cells nanomechanics by atomic force microscopy: focus on interactions at nanoscale
מאת: Guoqiao Zhou, et al.
יצא לאור: (2021-01-01)

Nanoscale Ferroelectric Characterization with Heterodyne Megasonic Piezoresponse Force Microscopy
מאת: Qibin Zeng, et al.
יצא לאור: (2021-04-01)

ACOUSTIC MICROSCOPY OF ULTRASONIC-ATTENUATION
מאת: Weaver, J, et al.
יצא לאור: (1983)

Protocol for nanoscale thermal mapping of electronic devices using atomic force microscopy with phase change material
מאת: Qilong Cheng, et al.
יצא לאור: (2024-06-01)

Nanoscale biomolecular mapping in cells and tissues with expansion microscopy
מאת: Wassie, Asmamaw T.
יצא לאור: (2019)

Microscopy of Metal Oxide Surfaces.
מאת: Castell, M, et al.
יצא לאור: (2000)

ACOUSTIC MICROSCOPY OF ELASTIC DISCONTINUITIES
מאת: Ilett, C, et al.
יצא לאור: (1984)

Nanoscale rippling on polymer surfaces induced by AFM manipulation
מאת: Mario D’Acunto, et al.
יצא לאור: (2015-12-01)

Acoustic microscopy for imaging and characterization
מאת: Briggs, G, et al.
יצא לאור: (1996)

Nanoscale liquid interfaces : wetting, patterning, and force microscopy at the molecular scale /
מאת: Ondaru̇hu, Thierry., editor, et al.
יצא לאור: (2013)

Improving the Consistency of Nanoscale Etching for Atomic Force Microscopy Tomography Applications
מאת: Mark Buckwell, et al.
יצא לאור: (2019-08-01)

Charge erasure analysis on the nanoscale using Kelvin probe force microscopy
מאת: Shi-quan Lin, et al.
יצא לאור: (2017-07-01)

Scanning tunneling microscopy of the UO2(111) surface
מאת: Castell, M, et al.
יצא לאור: (1996)

Influence of ultrasonic surface acoustic waves on local friction studied by lateral force microscopy
מאת: Behme, G, et al.
יצא לאור: (2000)

Measurement of Sub-Surface Microstructures Based on a Developed Ultrasonic Atomic Force Microscopy
מאת: Yuyang Wang, et al.
יצא לאור: (2022-05-01)

The surface structure of TiO2(001) after high temperature annealing studied by AFM, STM, and optical microscopy
מאת: Norenberg, H, et al.
יצא לאור: (2000)

Nanoscale Mapping of Ultrafast Magnetization Dynamics with Femtosecond Lorentz Microscopy
מאת: Nara Rubiano da Silva, et al.
יצא לאור: (2018-08-01)

Conductive Atomic Force Microscopy—Ultralow-Current Measurement Systems for Nanoscale Imaging of a Surface’s Electrical Properties
מאת: Andrzej Sikora, et al.
יצא לאור: (2024-08-01)