Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
Mapping surface elastic proper...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
Mapping surface elastic properties of stiff and compliant materials on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
Бібліографічні деталі
Автори:
Dinelli, F
,
Castell, M
,
Ritchie, D
,
Mason, N
,
Briggs, G
,
Kolosov, O
Формат:
Journal article
Опубліковано:
2000
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Схожі ресурси
Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
за авторством: Dinelli, F, та інші
Опубліковано: (2000)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
за авторством: Dinelli, F, та інші
Опубліковано: (1999)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
за авторством: Dinelli, F, та інші
Опубліковано: (1999)
Imaging the elastic nanostructure of Ge islands by ultrasonic force microscopy
за авторством: Kolosov, O, та інші
Опубліковано: (1998)
Nanoscale imaging of mechanical properties by ultrasonic force microscopy (UFM)
за авторством: Kolosov, O, та інші
Опубліковано: (1996)