Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1-xN/GaN quantum wells

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Bennett, SE, Saxey, D, Kappers, M, Barnard, J, Humphreys, C, Smith, G, Oliver, R
Định dạng: Journal article
Được phát hành: 2011

Những quyển sách tương tự