Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1-xN/GaN quantum wells
Những tác giả chính: | Bennett, SE, Saxey, D, Kappers, M, Barnard, J, Humphreys, C, Smith, G, Oliver, R |
---|---|
Định dạng: | Journal article |
Được phát hành: |
2011
|
Những quyển sách tương tự
-
Three-dimensional atom probe studies of an InxGa1-xN/GaN multiple quantum well structure: Assessment of possible indium clustering
Bằng: Galtrey, M, et al.
Được phát hành: (2007) -
Carrier dynamics of InxGa1-xN quantum disks embedded in GaN nanocolumns
Bằng: Holmes, M, et al.
Được phát hành: (2011) -
Carrier dynamics of InxGa1-xN quantum disks embedded in GaN nanocolumns
Bằng: Holmes, M, et al.
Được phát hành: (2011) -
Potentials of InxGa1-xN photovoltaic tandems
Bằng: F. Bouzid, et al.
Được phát hành: (2011-03-01) -
Optical studies on InxGa1-xN quantum disks
Bằng: Holmes, M, et al.
Được phát hành: (2011)