Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1-xN/GaN quantum wells
Hlavní autoři: | Bennett, SE, Saxey, D, Kappers, M, Barnard, J, Humphreys, C, Smith, G, Oliver, R |
---|---|
Médium: | Journal article |
Vydáno: |
2011
|
Podobné jednotky
-
Three-dimensional atom probe studies of an InxGa1-xN/GaN multiple quantum well structure: Assessment of possible indium clustering
Autor: Galtrey, M, a další
Vydáno: (2007) -
Carrier dynamics of InxGa1-xN quantum disks embedded in GaN nanocolumns
Autor: Holmes, M, a další
Vydáno: (2011) -
Carrier dynamics of InxGa1-xN quantum disks embedded in GaN nanocolumns
Autor: Holmes, M, a další
Vydáno: (2011) -
Potentials of InxGa1-xN photovoltaic tandems
Autor: F. Bouzid, a další
Vydáno: (2011-03-01) -
Optical studies on InxGa1-xN quantum disks
Autor: Holmes, M, a další
Vydáno: (2011)