Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1-xN/GaN quantum wells

Podrobná bibliografie
Hlavní autoři: Bennett, SE, Saxey, D, Kappers, M, Barnard, J, Humphreys, C, Smith, G, Oliver, R
Médium: Journal article
Vydáno: 2011

Podobné jednotky