Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1-xN/GaN quantum wells
Päätekijät: | Bennett, SE, Saxey, D, Kappers, M, Barnard, J, Humphreys, C, Smith, G, Oliver, R |
---|---|
Aineistotyyppi: | Journal article |
Julkaistu: |
2011
|
Samankaltaisia teoksia
-
Three-dimensional atom probe studies of an InxGa1-xN/GaN multiple quantum well structure: Assessment of possible indium clustering
Tekijä: Galtrey, M, et al.
Julkaistu: (2007) -
Carrier dynamics of InxGa1-xN quantum disks embedded in GaN nanocolumns
Tekijä: Holmes, M, et al.
Julkaistu: (2011) -
Carrier dynamics of InxGa1-xN quantum disks embedded in GaN nanocolumns
Tekijä: Holmes, M, et al.
Julkaistu: (2011) -
Potentials of InxGa1-xN photovoltaic tandems
Tekijä: F. Bouzid, et al.
Julkaistu: (2011-03-01) -
Optical studies on InxGa1-xN quantum disks
Tekijä: Holmes, M, et al.
Julkaistu: (2011)