Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1-xN/GaN quantum wells

Bibliografiset tiedot
Päätekijät: Bennett, SE, Saxey, D, Kappers, M, Barnard, J, Humphreys, C, Smith, G, Oliver, R
Aineistotyyppi: Journal article
Julkaistu: 2011

Samankaltaisia teoksia