OBSERVATION OF INTERFACIAL PLASMONS ON MBE-GROWN GAAS BY HIGH-RESOLUTION ELECTRON-ENERGY-LOSS SPECTROSCOPY
Plasmons at the interface between heavily-doped MBE grown n-type GaAs (n ≅ 4 × 1018 cm-3) and a surface depletion layer about 200 Å thick have been observed by HREELS. The variation of the plasmon frequency and intensity with exciting beam energy are discussed within the framework of a simple two la...
প্রধান লেখক: | Graygrychowski, Z, Stradling, R, Egdell, R, Dobson, P, Joyce, B, Woodbridge, K |
---|---|
বিন্যাস: | Journal article |
ভাষা: | English |
প্রকাশিত: |
1986
|
অনুরূপ উপাদানগুলি
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
APPLICATION OF HIGH-RESOLUTION ELECTRON-ENERGY-LOSS SPECTROSCOPY TO MBE GROWN GAAS(100)
অনুযায়ী: Graygrychowski, Z, অন্যান্য
প্রকাশিত: (1987) -
APPLICATION OF HREELS TO MBE-GROWN III-V-MATERIALS
অনুযায়ী: Graygrychowski, Z, অন্যান্য
প্রকাশিত: (1987) -
Cathodoluminescence study of oval defects in MBE grown InGaAs/GaAs
অনুযায়ী: RussellHarriott, J, অন্যান্য
প্রকাশিত: (1996) -
A New AlGaAs/GaAs/InGaAs Lasing Switch Grown by MBE
অনুযায়ী: Ming Rong Lee, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2001-01-01) -
SURFACE AND INTERFACE PHONON AND PLASMON EXCITATIONS IN III-V SEMICONDUCTOR-MATERIALS
অনুযায়ী: Egdell, R, অন্যান্য
প্রকাশিত: (1987)