Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
שפה
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
Page will reload when a filter is removed.
Reset Filters
Applied Filters:
מחבר:
Remove Filter
Menno Schilthuizen
Page will reload when a filter is removed.
Reset Filters
Show filters (1)
מחבר:
Remove Filter
Menno Schilthuizen
Simulating atomic resolution S...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
Permanent link
Simulating atomic resolution STEM images of non-periodic samples
מידע ביבליוגרפי
Main Authors:
Findlay, S
,
Shibata, N
,
Mizoguchi, T
,
Ikuhara, Y
,
D'Alfonso, A
,
Allen, L
,
Oxley, M
,
Nellist, P
,
Cosgriff, E
,
Behan, G
,
Kirkland, A
פורמט:
Journal article
יצא לאור:
2008
מלאי ספרים
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
פריטים דומים
Three-dimensional imaging in double aberration-corrected scanning confocal electron microscopy, part II: inelastic scattering.
מאת: D'Alfonso, A, et al.
יצא לאור: (2008)
Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
מאת: Nellist, P, et al.
יצא לאור: (2008)
Three-dimensional imaging and analysis by optical sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscopes
מאת: Nellist, P, et al.
יצא לאור: (2008)
Depth sectioning using electron energy loss spectroscopy
מאת: D'Alfonso, A, et al.
יצא לאור: (2008)
Theoretical interpretation of electron energy-loss spectroscopic images
מאת: Allen, L, et al.
יצא לאור: (2008)