Skip to content
VuFind
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
מתקדם
Page will reload when a filter is removed. Reset Filters
Applied Filters:
מחבר: Remove Filter Menno Schilthuizen
Page will reload when a filter is removed.
Reset Filters
Show filters (1)
מחבר: Remove Filter Menno Schilthuizen
  • Simulating atomic resolution S...
  • יצירת מראה מקום
  • שליחה במסרון
  • שלח את זה
  • הדפסה
  • יצוא רשומה
    • יצוא אל RefWorks
    • יצוא אל EndNoteWeb
    • יצוא אל EndNote
  • Permanent link
Simulating atomic resolution STEM images of non-periodic samples

Simulating atomic resolution STEM images of non-periodic samples

מידע ביבליוגרפי
Main Authors: Findlay, S, Shibata, N, Mizoguchi, T, Ikuhara, Y, D'Alfonso, A, Allen, L, Oxley, M, Nellist, P, Cosgriff, E, Behan, G, Kirkland, A
פורמט: Journal article
יצא לאור: 2008
  • מלאי ספרים
  • תיאור
  • פריטים דומים
  • תצוגת צוות

פריטים דומים

  • Three-dimensional imaging in double aberration-corrected scanning confocal electron microscopy, part II: inelastic scattering.
    מאת: D'Alfonso, A, et al.
    יצא לאור: (2008)
  • Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
    מאת: Nellist, P, et al.
    יצא לאור: (2008)
  • Three-dimensional imaging and analysis by optical sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscopes
    מאת: Nellist, P, et al.
    יצא לאור: (2008)
  • Depth sectioning using electron energy loss spectroscopy
    מאת: D'Alfonso, A, et al.
    יצא לאור: (2008)
  • Theoretical interpretation of electron energy-loss spectroscopic images
    מאת: Allen, L, et al.
    יצא לאור: (2008)

אפשרויות חיפוש

  • חיפושים קודמים
  • חיפוש מתקדם

מצא עוד

  • דפדוף בקטלוג
  • דפדוף בסדר אלפבתי
  • Explore Channels
  • שמורות לקורס
  • פריטים חדשים

צריכים עזרה?

  • טיפים לחיפוש
  • לשאול ספרן/ית
  • שאלות נפוצות