$High-angular resolution electron backscatter diffraction as a new tool for mapping lattice distortion in geological minerals$

High-angular resolution electron backscatter diffraction as a new tool for mapping lattice distortion in geological minerals

Analysis of distortions of the crystal lattice within individual mineral grains is central to the investigation of microscale processes that control and record tectonic events. These distortions are generally combinations of lattice rotations and elastic strains, but a lack of suitable observational...

Повний опис

Бібліографічні деталі
Автори:	Wallis, D, Hansen, L, Britton, T, Wilkinson, A
Формат:	Journal article
Опубліковано:	American Geophysical Union 2019

Схожі ресурси

Geometrically necessary dislocation densities in olivine obtained using high-angular resolution electron backscatter diffraction
за авторством: Wallis, D, та інші
Опубліковано: (2016)

Measurement of residual elastic strain and lattice rotations with high resolution electron backscatter diffraction.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2011)

High resolution electron backscatter diffraction measurements of elastic strain variations in the presence of larger lattice rotations.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2012)

High-resolution electron backscatter diffraction: an emerging tool for studying local deformation
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2010)

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2013)

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2006)

The effect of pattern overlap on the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction measurements.
за авторством: Tong, V, та інші
Опубліковано: (2015)

Analysis of dislocation densities using high resolution electron backscatter diffraction
за авторством: Vilalta-Clemente, A, та інші
Опубліковано: (2015)

High resolution electron backscatter diffraction study on the heterogeneities of tetragonal distortion in Fe-C martensite at the microstructural scale
за авторством: Tanaka, T, та інші
Опубліковано: (2020)

Strain mapping using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2009)

Rapid electron backscatter diffraction mapping: painting by numbers
за авторством: Tong, V, та інші
Опубліковано: (2018)

Mapping the full lattice strain tensor of a single dislocation by high angular resolution transmission Kikuchi diffraction (HR-TKD)
за авторством: Yu, H, та інші
Опубліковано: (2019)

Probing deformation and revealing microstructural mechanisms with cross-correlation-based, high-resolution electron backscatter diffraction
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Direct detection of electron backscatter diffraction patterns.
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2013)

Measurement of geometrically necessary dislocation density with high resolution electron backscatter diffraction: effects of detector binning and step size.
за авторством: Jiang, J, та інші
Опубліковано: (2013)

Adaptable physics-based super-resolution for electron backscatter diffraction maps
за авторством: Devendra K. Jangid, та інші
Опубліковано: (2022-12-01)

The effect of pattern overlap on the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction measurements
за авторством: Tong, V, та інші
Опубліковано: (2015)

Factors affecting the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction when using simulated patterns.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2010)

High-resolution electron backscatter diffraction in III-nitride semiconductors
за авторством: Vilalta-Clemente, A, та інші
Опубліковано: (2015)

Application of Electron Backscatter Diffraction to Calcite-Twinning Paleopiezometry
за авторством: Ernest Rutter, та інші
Опубліковано: (2022-05-01)

Correcting angular distortions in Bragg coherent X-ray diffraction imaging
за авторством: Huaiyu Chen, та інші
Опубліковано: (2024-09-01)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (2006)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (2006)

Strain mapping using high-resolution electron backscatter diffraction technique: The influence of sample preparation
за авторством: Nowakowski Pawel, та інші
Опубліковано: (2024-01-01)

An iterative method for reference pattern selection in high-resolution electron backscatter diffraction (HR-EBSD)
за авторством: Koko, A, та інші
Опубліковано: (2023)

High-resolution elastic strain measurement from electron backscatter diffraction patterns: new levels of sensitivity.
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2006)

Electron backscatter diffraction data from high temperature olivine and quartz experiments
за авторством: Goddard, R, та інші
Опубліковано: (2020)

The Hyper-Angular Cube Concept for Improving the Spatial and Acoustic Resolution of MBES Backscatter Angular Response Analysis
за авторством: Evangelos Alevizos, та інші
Опубліковано: (2018-11-01)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 1: detector assessment.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 2: experimental demonstration.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - part 1: Detector assessment
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - Part 2: Experimental demonstration
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Torsional periodic lattice distortions and diffraction of twisted 2D materials
за авторством: Suk Hyun Sung, та інші
Опубліковано: (2022-12-01)

In situ characterisation of the strain fields of intragranular slip bands in ferrite by high-resolution electron backscatter diffraction
за авторством: Koko, A, та інші
Опубліковано: (2022)

Measurement of plastic strain of polycrystalline material by electron backscatter diffraction
за авторством: Kamaya, M, та інші
Опубліковано: (2005)

Electron backscatter diffraction study of dislocation content of a macrozone in hot-rolled Ti-6Al-4V alloy
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2010)

Electron backscatter diffraction study of dislocation content of a macrozone in hot-rolled Ti-6Al-4V alloy
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2010)

Microstrain distribution mapping on CuInSe2 thin films by means of electron backscatter diffraction, X-ray diffraction, and Raman microspectroscopy.
за авторством: Schäfer, N, та інші
Опубліковано: (2016)

Electron backscatter diffraction in the silicon nanowires
за авторством: K.K. Dikhanbayev, та інші
Опубліковано: (2016-10-01)

Electron backscatter diffraction in materials characterization
за авторством: Dejan Stojakovic
Опубліковано: (2012-03-01)