A STUDY OF THE EARLY STAGES OF TEMPERING OF IRON-CARBON MARTENSITES BY ATOM PROBE FIELD-ION MICROSCOPY

A STUDY OF THE EARLY STAGES OF TEMPERING OF IRON-CARBON MARTENSITES BY ATOM PROBE FIELD-ION MICROSCOPY

Бібліографічні деталі
Автори:	Miller, M, Beaven, P, Smith, G
Формат:	Journal article
Опубліковано:	1981

Схожі ресурси

AN ATOM PROBE STUDY OF THE AGING OF IRON-NICKEL-CARBON MARTENSITE
за авторством: Miller, M, та інші
Опубліковано: (1983)

Atom probe analysis of the first stage of tempering of iron-carbon-nitrogen martensite
за авторством: vanGenderen, M, та інші
Опубліковано: (1997)

FURTHER INVESTIGATIONS OF CARBON-ATOM DISTRIBUTION IN MARTENSITE BY ATOM PROBE ANALYSIS
за авторством: Miller, M, та інші
Опубліковано: (1980)

Tempering of iron-carbon-nitrogen martensites: (Re) distribution of interstitial atoms
за авторством: Bottger, A, та інші
Опубліковано: (1999)

Atom-probe and x-ray diffraction analysis of the composition and structure of precipitates formed on tempering of ternary iron-carbon-nitrogen martensites
за авторством: Bottger, A, та інші
Опубліковано: (1996)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
за авторством: Godfrey, T, та інші
Опубліковано: (1989)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1983)

Nanoscale Microstructural Analyses by Atom Probe Field Ion Microscopy
за авторством: Hono, K., та інші
Опубліковано: (1998-01-01)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF NB3SN WIRES
за авторством: Rose, J, та інші
Опубліковано: (1986)

ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1992)

Imaging of radiation damage using complementary field ion microscopy and atom probe tomography.
за авторством: Dagan, M, та інші
Опубліковано: (2015)

Imaging of radiation damage using complementary field ion microscopy and atom probe tomography
за авторством: Dagan, M, та інші
Опубліковано: (2015)

AGING AND TEMPERING OF FERROUS MARTENSITES
за авторством: Chang, L, та інші
Опубліковано: (1986)

Atom probe analysis of initial decomposition of Fe-N martensite
за авторством: vanGenderen, M, та інші
Опубліковано: (1997)

Focused ion-beam specimen preparation for atom probe field-ion microscopy characterization of multilayer film structures
за авторством: Larson, D, та інші
Опубліковано: (1999)

TRACE-ELEMENT DETECTION AT THE ATOMIC LEVEL BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
за авторством: Beaven, P, та інші
Опубліковано: (1980)

ATOM PROBE FIELD-ION MICROSCOPY STUDY OF AGING BEHAVIOR OF A CO-FREE MARAGING-STEEL
за авторством: Sha, W, та інші
Опубліковано: (1991)

THE SILICON EFFECT IN THE TEMPERING OF MARTENSITE IN STEELS
за авторством: Li, C, та інші
Опубліковано: (1984)

PERFORMANCE AND APPLICATIONS OF AN IMAGING ATOM-PROBE
за авторством: Miller, M, та інші
Опубліковано: (1979)

Three-dimensional atom probe field-ion microscopy observation of Cu/Co multilayer film structures
за авторством: Larson, D, та інші
Опубліковано: (1998)

Atom Probe Microscopy /
за авторством: Gault, Baptiste author 632642, та інші
Опубліковано: (2012)

A FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE STUDY OF AGING BEHAVIOR OF A CO-BEARING MARAGING-STEEL
за авторством: Sha, W, та інші
Опубліковано: (1989)

ATOM PROBE MICROANALYTICAL STUDIES OF SOME COMMERCIALLY IMPORTANT STEELS
за авторством: Miller, M, та інші
Опубліковано: (1978)

Atom probe characterisation of segregation driven Cu and Mn–Ni–Si co-precipitation in neutron irradiated T91 tempered-martensitic steel
за авторством: Davis, TP, та інші
Опубліковано: (2020)

3D field ion microscopy and atom probe tomography techniques for the atomic scale characterisation of radiation damage in tungsten
за авторством: Dagan, M
Опубліковано: (2016)

PROGRESS WITH FIM AND ATOM-PROBE INVESTIGATIONS OF NICKEL-BASED SUPER-ALLOYS
за авторством: Delargy, K, та інші
Опубліковано: (1979)

AN INVESTIGATION OF A RAPIDLY SOLIDIFIED AL-CR ALLOY USING FIELD-ION MICROSCOPY ATOM PROBE ANALYSIS AND HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY
за авторством: Shollock, B, та інші
Опубліковано: (1988)

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE ANALYSIS OF GRIDDED SILICON FIELD EMITTERS
за авторством: Huang, M, та інші
Опубліковано: (1994)

Single-ion deconvolution of mass-peak overlaps for atom probe microscopy
за авторством: London, A, та інші
Опубліковано: (2017)

QUANTITATIVE-DETERMINATION OF ALLOY ELEMENT PARTITIONING IN PEARLITIC STEELS BY ATOM PROBE ANALYSIS
за авторством: Miller, M, та інші
Опубліковано: (1979)

ATOM PROBE FIELD-ION MICROSCOPY STUDY OF AGING BEHAVIOR OF A MODEL FE-NI-CO-MO MARAGING-STEEL
за авторством: Sha, W, та інші
Опубліковано: (1992)

FIELD-ION MICROSCOPE ATOM PROBE STUDIES OF METALLIC GLASSES
за авторством: Bhatti, A, та інші
Опубліковано: (1985)

FIM AND ATOM-PROBE STUDIES OF DEFECTS IN DOPED TUNGSTEN LAMP WIRES
за авторством: Beaven, P, та інші
Опубліковано: (1979)

Suppression of Inhomogeneous Plastic Deformation in Medium-Carbon Tempered Martensite Steel
за авторством: Hai Qiu, та інші
Опубліковано: (2024-03-01)

Automated atom-by-atom three-dimensional (3D) reconstruction of field ion microscopy data
за авторством: Dagan, M, та інші
Опубліковано: (2017)

ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE ON SILICON
за авторством: King, R, та інші
Опубліковано: (1995)

High-Temperature Tempered Martensite Embrittlement in Quenched-and-Tempered Offshore Steels
за авторством: Hung-Wei Yen, та інші
Опубліковано: (2017-07-01)

Strain hardening behaviour of as-quenched and tempered martensite
за авторством: Wang, LY, та інші
Опубліковано: (2020)

Transitions in the strain hardening behaviour of tempered martensite
за авторством: Wang, LY, та інші
Опубліковано: (2021)

Tempering of deformed and as-quenched martensite in structural steel
за авторством: Najafi M., та інші
Опубліковано: (2019-01-01)