Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Vsa polja
Naslov
Avtor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Išči
Napredno
DISLOCATIONS IN SEMICONDUCTORS...
Citiraj
Pošljite SMS
Pošljite email
Natisni
Izvozi zadetek
Izvozi v RefWorks
Izvozi v EndNoteWeb
Izvozi v EndNote
Permanent link
DISLOCATIONS IN SEMICONDUCTORS AS STUDIED BY WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
Bibliografske podrobnosti
Main Authors:
Cockayne, D
,
Hons, A
Format:
Journal article
Jezik:
English
Izdano:
1979
Zaloga
Opis
Podobne knjige/članki
Knjižničarski pogled
Opis
Izvleček:
Podobne knjige/članki
WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
od: Cockayne, D
Izdano: (1981)
Applications of the weak beam technique of electron microscopy
od: Cockayne, D
Izdano: (1999)
THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
od: Cockayne, D
Izdano: (1972)
PRINCIPLES AND PRACTICE OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
od: Cockayne, D
Izdano: (1973)
INVESTIGATIONS OF DISLOCATION STRAIN FIELDS USING WEAK BEAMS
od: Cockayne, D, et al.
Izdano: (1969)