Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
DISLOCATIONS IN SEMICONDUCTORS...
Vytvořit citaci
Zaslat SMS
Poslat e-mailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Trvalý odkaz
DISLOCATIONS IN SEMICONDUCTORS AS STUDIED BY WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:
Cockayne, D
,
Hons, A
Médium:
Journal article
Jazyk:
English
Vydáno:
1979
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Podobné jednotky
WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
Autor: Cockayne, D
Vydáno: (1981)
Applications of the weak beam technique of electron microscopy
Autor: Cockayne, D
Vydáno: (1999)
THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
Autor: Cockayne, D
Vydáno: (1972)
PRINCIPLES AND PRACTICE OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
Autor: Cockayne, D
Vydáno: (1973)
INVESTIGATIONS OF DISLOCATION STRAIN FIELDS USING WEAK BEAMS
Autor: Cockayne, D, a další
Vydáno: (1969)