Electron energy loss spectroscopy of fullerene materials

Electron energy loss spectroscopy of fullerene materials

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক:	Nicholls, R
অন্যান্য লেখক:	Cockayne, D
বিন্যাস:	গবেষণাপত্র
ভাষা:	English
প্রকাশিত:	2006
বিষয়গুলি:	Microscopy and microanalysis Materials modelling Nanostructures

অনুরূপ উপাদানগুলি

X-Rays in nanoscience : spectroscopy, spectromicroscopy, and scattering techniques /
অনুযায়ী: Guo, Jinghua
প্রকাশিত: (c201)

Key events in the history of electron microscopy
অনুযায়ী: Haguenau, F, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2003)

Understanding the mechanisms of stress corrosion cracking
অনুযায়ী: Kruska, K
প্রকাশিত: (2012)

Processing and properties of aligned carbon nanotube/glass ceramic composite
অনুযায়ী: Otieno, G
প্রকাশিত: (2012)

Residual stress distribution in a functionally graded alumina-silicon carbide material
অনুযায়ী: Dancer, C, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2012)

Spectroscopy and dynamics of colloidal particles and systems at interfaces
অনুযায়ী: Moore, L, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2012)

Time-of-flight secondary ion mass spectrometry - fundamental issues for quantitative measurements and multivariate data analysis
অনুযায়ী: Lee, J
প্রকাশিত: (2011)

Microstructural properties of semiconductor nanostructures
অনুযায়ী: Li, F
প্রকাশিত: (2011)

Reactive hydride composites for efficient hydrogen energy storage
অনুযায়ী: Nwakwuo, C
প্রকাশিত: (2011)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis : a text for biologists materials scientists, and geologist/
অনুযায়ী: Goldstein, Joseph I.
প্রকাশিত: (1992)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
অনুযায়ী: 371604 Lee, Robert Edward
প্রকাশিত: (1993)

Electron microscopy study of radiation damage in tungsten and alloys
অনুযায়ী: Yi, X
প্রকাশিত: (2014)

Microstructural characterisation of novel nitride nanostructures using electron microscopy
অনুযায়ী: Severs, J
প্রকাশিত: (2014)

The use of scanning electron microscopy and an electron microprobe in studies on oxidation of sulfur compounds by bacteria and bioleaching of heavy metals /
অনুযায়ী: 449103 Ostrowski, Marek, অন্যান্য

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
অনুযায়ী: Goldstein, Joseph, 1939-
প্রকাশিত: (2003)

Measuring and understanding grain boundary properties of engineering ceramics
অনুযায়ী: Norton, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013)

Development of Al alloy composites by powder metallurgy routes
অনুযায়ী: Jiang, X
প্রকাশিত: (2014)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis [compact disc] /
অনুযায়ী: Goldstein, Joseph, 1939-
প্রকাশিত: (2003)

High resolution secondary ion mass spectrometry analysis of trace elements in cereal grain and roots
অনুযায়ী: Moore, K
প্রকাশিত: (2011)

Chemical vapour deposition growth of large-area graphene on metals
অনুযায়ী: Murdock, AT
প্রকাশিত: (2014)

Electron microprobe analysis and scanning electron microscopy in geology /
অনুযায়ী: 220228 Reed, S. J. B.
প্রকাশিত: (2005)

Automatic analysis of nonmetallic inclusions in steel using electron microscope with energy dispersive microprobe with
অনুযায়ী: T. I. Sidorenko, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2022-03-01)

Dynamics of nanostructured light emitted diodes
অনুযায়ী: Chan, CCS
প্রকাশিত: (2014)

In vivo adaptation of tendon material properties in healthy and diseased tendons with application to rotator cuff disease
অনুযায়ী: Tilley, JMR
প্রকাশিত: (2012)

Quantitative electron microprobe analysis/
অনুযায়ী: 220315 Theisen, Roger
প্রকাশিত: (1965)

Advancing electron microscopy using deep learning
অনুযায়ী: K Chen, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2024-01-01)

Fracture Resistance of 14Cr ODS Steel Exposed to a High Temperature Gas
অনুযায়ী: Anna Hojna, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2017-12-01)

The irradiation resistance of oxide dispersion strengthened steels
অনুযায়ী: Burrows, C
প্রকাশিত: (2015)

Extrusion processing of chocolate crumb paste
অনুযায়ী: Walker, A
প্রকাশিত: (2012)

Endohedral fullerenes : from fundamentals to applications /
অনুযায়ী: Yang, Shangfeng, editor, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2014)

Synthesis and characterisation of large area graphene
অনুযায়ী: Robertson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2013)

Defect characterisation in multi-crystalline silicon
অনুযায়ী: Lotharukpong, C
প্রকাশিত: (2015)

Advanced electron microscopy and nanomaterials : selected, peer reviewed papers from the First Joint Advanced Electron Microscopy School for Nanomaterials and the Workshop on Nanomaterials (AEM-NANOMAT '09), Saltillo (Coahuila) Mx̌ico, September 29th-October 2nd, 2009 /
অনুযায়ী: Advanced Electron Microscopy School for Nanomaterials (1st : 2009 : Saltillo (Coahuila) Mx̌ico), অন্যান্য
প্রকাশিত: (c201)

Lead free solders for aerospace applications
অনুযায়ী: Farinha Marques, VM
প্রকাশিত: (2010)

Product classes characterization at micro-scale level applied to granular wastes fractions < 20 mm: a case-study
অনুযায়ী: Daniela Rizzo, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2024-07-01)

Nanoscale spectroscopy and its applications to semiconductor research /
অনুযায়ী: International Workshop on Nanoscale Spectroscopy and its Applications to Semiconductor Research (2000 : Trieste, Italy), অন্যান্য
প্রকাশিত: (2002)

Usage of energy- dispersial analysis in studying rocks melts
অনুযায়ী: Kudelas Duan, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2001-09-01)

Optical properties and spectroscopy of nanomaterials /
অনুযায়ী: 485521 Zhang, Jin Z.
প্রকাশিত: (c200)

Fullerene-to-MWCNT Structural Evolution Synthesized by Arc Discharge Plasma
অনুযায়ী: Muhammad Sufi Roslan, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2018-10-01)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis : a text for biologists materials scientists, and geologist /
অনুযায়ী: Goldstein, Joseph I.
প্রকাশিত: (1981)