Electron energy loss spectroscopy of fullerene materials

Electron energy loss spectroscopy of fullerene materials

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Nicholls, R
מחברים אחרים:	Cockayne, D
פורמט:	Thesis
שפה:	English
יצא לאור:	2006
נושאים:	Microscopy and microanalysis Materials modelling Nanostructures

פריטים דומים

X-Rays in nanoscience : spectroscopy, spectromicroscopy, and scattering techniques /
מאת: Guo, Jinghua
יצא לאור: (c201)

Key events in the history of electron microscopy
מאת: Haguenau, F, et al.
יצא לאור: (2003)

Understanding the mechanisms of stress corrosion cracking
מאת: Kruska, K
יצא לאור: (2012)

Processing and properties of aligned carbon nanotube/glass ceramic composite
מאת: Otieno, G
יצא לאור: (2012)

Residual stress distribution in a functionally graded alumina-silicon carbide material
מאת: Dancer, C, et al.
יצא לאור: (2012)

Spectroscopy and dynamics of colloidal particles and systems at interfaces
מאת: Moore, L, et al.
יצא לאור: (2012)

Time-of-flight secondary ion mass spectrometry - fundamental issues for quantitative measurements and multivariate data analysis
מאת: Lee, J
יצא לאור: (2011)

Microstructural properties of semiconductor nanostructures
מאת: Li, F
יצא לאור: (2011)

Reactive hydride composites for efficient hydrogen energy storage
מאת: Nwakwuo, C
יצא לאור: (2011)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis : a text for biologists materials scientists, and geologist/
מאת: Goldstein, Joseph I.
יצא לאור: (1992)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
מאת: 371604 Lee, Robert Edward
יצא לאור: (1993)

Electron microscopy study of radiation damage in tungsten and alloys
מאת: Yi, X
יצא לאור: (2014)

Microstructural characterisation of novel nitride nanostructures using electron microscopy
מאת: Severs, J
יצא לאור: (2014)

The use of scanning electron microscopy and an electron microprobe in studies on oxidation of sulfur compounds by bacteria and bioleaching of heavy metals /
מאת: 449103 Ostrowski, Marek, et al.

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
מאת: Goldstein, Joseph, 1939-
יצא לאור: (2003)

Measuring and understanding grain boundary properties of engineering ceramics
מאת: Norton, A, et al.
יצא לאור: (2013)

Development of Al alloy composites by powder metallurgy routes
מאת: Jiang, X
יצא לאור: (2014)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis [compact disc] /
מאת: Goldstein, Joseph, 1939-
יצא לאור: (2003)

High resolution secondary ion mass spectrometry analysis of trace elements in cereal grain and roots
מאת: Moore, K
יצא לאור: (2011)

Chemical vapour deposition growth of large-area graphene on metals
מאת: Murdock, AT
יצא לאור: (2014)

Electron microprobe analysis and scanning electron microscopy in geology /
מאת: 220228 Reed, S. J. B.
יצא לאור: (2005)

Automatic analysis of nonmetallic inclusions in steel using electron microscope with energy dispersive microprobe with
מאת: T. I. Sidorenko, et al.
יצא לאור: (2022-03-01)

Dynamics of nanostructured light emitted diodes
מאת: Chan, CCS
יצא לאור: (2014)

In vivo adaptation of tendon material properties in healthy and diseased tendons with application to rotator cuff disease
מאת: Tilley, JMR
יצא לאור: (2012)

Quantitative electron microprobe analysis/
מאת: 220315 Theisen, Roger
יצא לאור: (1965)

Advancing electron microscopy using deep learning
מאת: K Chen, et al.
יצא לאור: (2024-01-01)

Fracture Resistance of 14Cr ODS Steel Exposed to a High Temperature Gas
מאת: Anna Hojna, et al.
יצא לאור: (2017-12-01)

The irradiation resistance of oxide dispersion strengthened steels
מאת: Burrows, C
יצא לאור: (2015)

Extrusion processing of chocolate crumb paste
מאת: Walker, A
יצא לאור: (2012)

Endohedral fullerenes : from fundamentals to applications /
מאת: Yang, Shangfeng, editor, et al.
יצא לאור: (2014)

Synthesis and characterisation of large area graphene
מאת: Robertson, A, et al.
יצא לאור: (2013)

Defect characterisation in multi-crystalline silicon
מאת: Lotharukpong, C
יצא לאור: (2015)

Advanced electron microscopy and nanomaterials : selected, peer reviewed papers from the First Joint Advanced Electron Microscopy School for Nanomaterials and the Workshop on Nanomaterials (AEM-NANOMAT '09), Saltillo (Coahuila) Mx̌ico, September 29th-October 2nd, 2009 /
מאת: Advanced Electron Microscopy School for Nanomaterials (1st : 2009 : Saltillo (Coahuila) Mx̌ico), et al.
יצא לאור: (c201)

Lead free solders for aerospace applications
מאת: Farinha Marques, VM
יצא לאור: (2010)

Product classes characterization at micro-scale level applied to granular wastes fractions < 20 mm: a case-study
מאת: Daniela Rizzo, et al.
יצא לאור: (2024-07-01)

Nanoscale spectroscopy and its applications to semiconductor research /
מאת: International Workshop on Nanoscale Spectroscopy and its Applications to Semiconductor Research (2000 : Trieste, Italy), et al.
יצא לאור: (2002)

Usage of energy- dispersial analysis in studying rocks melts
מאת: Kudelas Duan, et al.
יצא לאור: (2001-09-01)

Optical properties and spectroscopy of nanomaterials /
מאת: 485521 Zhang, Jin Z.
יצא לאור: (c200)

Fullerene-to-MWCNT Structural Evolution Synthesized by Arc Discharge Plasma
מאת: Muhammad Sufi Roslan, et al.
יצא לאור: (2018-10-01)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis : a text for biologists materials scientists, and geologist /
מאת: Goldstein, Joseph I.
יצא לאור: (1981)