Electron energy loss spectroscopy of fullerene materials

Electron energy loss spectroscopy of fullerene materials

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ:	Nicholls, R
Այլ հեղինակներ:	Cockayne, D
Ձևաչափ:	Թեզիս
Լեզու:	English
Հրապարակվել է:	2006
Խորագրեր:	Microscopy and microanalysis Materials modelling Nanostructures

Նմանատիպ նյութեր

X-Rays in nanoscience : spectroscopy, spectromicroscopy, and scattering techniques /
‌: Guo, Jinghua
Հրապարակվել է: (c201)

Key events in the history of electron microscopy
‌: Haguenau, F, և այլն
Հրապարակվել է: (2003)

Understanding the mechanisms of stress corrosion cracking
‌: Kruska, K
Հրապարակվել է: (2012)

Processing and properties of aligned carbon nanotube/glass ceramic composite
‌: Otieno, G
Հրապարակվել է: (2012)

Residual stress distribution in a functionally graded alumina-silicon carbide material
‌: Dancer, C, և այլն
Հրապարակվել է: (2012)

Spectroscopy and dynamics of colloidal particles and systems at interfaces
‌: Moore, L, և այլն
Հրապարակվել է: (2012)

Time-of-flight secondary ion mass spectrometry - fundamental issues for quantitative measurements and multivariate data analysis
‌: Lee, J
Հրապարակվել է: (2011)

Microstructural properties of semiconductor nanostructures
‌: Li, F
Հրապարակվել է: (2011)

Reactive hydride composites for efficient hydrogen energy storage
‌: Nwakwuo, C
Հրապարակվել է: (2011)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis : a text for biologists materials scientists, and geologist/
‌: Goldstein, Joseph I.
Հրապարակվել է: (1992)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
‌: 371604 Lee, Robert Edward
Հրապարակվել է: (1993)

Electron microscopy study of radiation damage in tungsten and alloys
‌: Yi, X
Հրապարակվել է: (2014)

Microstructural characterisation of novel nitride nanostructures using electron microscopy
‌: Severs, J
Հրապարակվել է: (2014)

The use of scanning electron microscopy and an electron microprobe in studies on oxidation of sulfur compounds by bacteria and bioleaching of heavy metals /
‌: 449103 Ostrowski, Marek, և այլն

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
‌: Goldstein, Joseph, 1939-
Հրապարակվել է: (2003)

Measuring and understanding grain boundary properties of engineering ceramics
‌: Norton, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Development of Al alloy composites by powder metallurgy routes
‌: Jiang, X
Հրապարակվել է: (2014)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis [compact disc] /
‌: Goldstein, Joseph, 1939-
Հրապարակվել է: (2003)

High resolution secondary ion mass spectrometry analysis of trace elements in cereal grain and roots
‌: Moore, K
Հրապարակվել է: (2011)

Chemical vapour deposition growth of large-area graphene on metals
‌: Murdock, AT
Հրապարակվել է: (2014)

Electron microprobe analysis and scanning electron microscopy in geology /
‌: 220228 Reed, S. J. B.
Հրապարակվել է: (2005)

Automatic analysis of nonmetallic inclusions in steel using electron microscope with energy dispersive microprobe with
‌: T. I. Sidorenko, և այլն
Հրապարակվել է: (2022-03-01)

Dynamics of nanostructured light emitted diodes
‌: Chan, CCS
Հրապարակվել է: (2014)

In vivo adaptation of tendon material properties in healthy and diseased tendons with application to rotator cuff disease
‌: Tilley, JMR
Հրապարակվել է: (2012)

Quantitative electron microprobe analysis/
‌: 220315 Theisen, Roger
Հրապարակվել է: (1965)

Advancing electron microscopy using deep learning
‌: K Chen, և այլն
Հրապարակվել է: (2024-01-01)

Fracture Resistance of 14Cr ODS Steel Exposed to a High Temperature Gas
‌: Anna Hojna, և այլն
Հրապարակվել է: (2017-12-01)

The irradiation resistance of oxide dispersion strengthened steels
‌: Burrows, C
Հրապարակվել է: (2015)

Extrusion processing of chocolate crumb paste
‌: Walker, A
Հրապարակվել է: (2012)

Endohedral fullerenes : from fundamentals to applications /
‌: Yang, Shangfeng, editor, և այլն
Հրապարակվել է: (2014)

Synthesis and characterisation of large area graphene
‌: Robertson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Defect characterisation in multi-crystalline silicon
‌: Lotharukpong, C
Հրապարակվել է: (2015)

Advanced electron microscopy and nanomaterials : selected, peer reviewed papers from the First Joint Advanced Electron Microscopy School for Nanomaterials and the Workshop on Nanomaterials (AEM-NANOMAT '09), Saltillo (Coahuila) Mx̌ico, September 29th-October 2nd, 2009 /
‌: Advanced Electron Microscopy School for Nanomaterials (1st : 2009 : Saltillo (Coahuila) Mx̌ico), և այլն
Հրապարակվել է: (c201)

Lead free solders for aerospace applications
‌: Farinha Marques, VM
Հրապարակվել է: (2010)

Product classes characterization at micro-scale level applied to granular wastes fractions < 20 mm: a case-study
‌: Daniela Rizzo, և այլն
Հրապարակվել է: (2024-07-01)

Nanoscale spectroscopy and its applications to semiconductor research /
‌: International Workshop on Nanoscale Spectroscopy and its Applications to Semiconductor Research (2000 : Trieste, Italy), և այլն
Հրապարակվել է: (2002)

Usage of energy- dispersial analysis in studying rocks melts
‌: Kudelas Duan, և այլն
Հրապարակվել է: (2001-09-01)

Optical properties and spectroscopy of nanomaterials /
‌: 485521 Zhang, Jin Z.
Հրապարակվել է: (c200)

Fullerene-to-MWCNT Structural Evolution Synthesized by Arc Discharge Plasma
‌: Muhammad Sufi Roslan, և այլն
Հրապարակվել է: (2018-10-01)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis : a text for biologists materials scientists, and geologist /
‌: Goldstein, Joseph I.
Հրապարակվել է: (1981)