Electron energy loss spectroscopy of fullerene materials

Electron energy loss spectroscopy of fullerene materials

Бібліографічні деталі
Автор:	Nicholls, R
Інші автори:	Cockayne, D
Формат:	Дисертація
Мова:	English
Опубліковано:	2006
Предмети:	Microscopy and microanalysis Materials modelling Nanostructures

Схожі ресурси

X-Rays in nanoscience : spectroscopy, spectromicroscopy, and scattering techniques /
за авторством: Guo, Jinghua
Опубліковано: (c201)

Key events in the history of electron microscopy
за авторством: Haguenau, F, та інші
Опубліковано: (2003)

Understanding the mechanisms of stress corrosion cracking
за авторством: Kruska, K
Опубліковано: (2012)

Processing and properties of aligned carbon nanotube/glass ceramic composite
за авторством: Otieno, G
Опубліковано: (2012)

Residual stress distribution in a functionally graded alumina-silicon carbide material
за авторством: Dancer, C, та інші
Опубліковано: (2012)

Spectroscopy and dynamics of colloidal particles and systems at interfaces
за авторством: Moore, L, та інші
Опубліковано: (2012)

Time-of-flight secondary ion mass spectrometry - fundamental issues for quantitative measurements and multivariate data analysis
за авторством: Lee, J
Опубліковано: (2011)

Microstructural properties of semiconductor nanostructures
за авторством: Li, F
Опубліковано: (2011)

Reactive hydride composites for efficient hydrogen energy storage
за авторством: Nwakwuo, C
Опубліковано: (2011)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis : a text for biologists materials scientists, and geologist/
за авторством: Goldstein, Joseph I.
Опубліковано: (1992)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
за авторством: 371604 Lee, Robert Edward
Опубліковано: (1993)

Electron microscopy study of radiation damage in tungsten and alloys
за авторством: Yi, X
Опубліковано: (2014)

Microstructural characterisation of novel nitride nanostructures using electron microscopy
за авторством: Severs, J
Опубліковано: (2014)

The use of scanning electron microscopy and an electron microprobe in studies on oxidation of sulfur compounds by bacteria and bioleaching of heavy metals /
за авторством: 449103 Ostrowski, Marek, та інші

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
за авторством: Goldstein, Joseph, 1939-
Опубліковано: (2003)

Measuring and understanding grain boundary properties of engineering ceramics
за авторством: Norton, A, та інші
Опубліковано: (2013)

Development of Al alloy composites by powder metallurgy routes
за авторством: Jiang, X
Опубліковано: (2014)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis [compact disc] /
за авторством: Goldstein, Joseph, 1939-
Опубліковано: (2003)

High resolution secondary ion mass spectrometry analysis of trace elements in cereal grain and roots
за авторством: Moore, K
Опубліковано: (2011)

Chemical vapour deposition growth of large-area graphene on metals
за авторством: Murdock, AT
Опубліковано: (2014)

Electron microprobe analysis and scanning electron microscopy in geology /
за авторством: 220228 Reed, S. J. B.
Опубліковано: (2005)

Automatic analysis of nonmetallic inclusions in steel using electron microscope with energy dispersive microprobe with
за авторством: T. I. Sidorenko, та інші
Опубліковано: (2022-03-01)

Dynamics of nanostructured light emitted diodes
за авторством: Chan, CCS
Опубліковано: (2014)

In vivo adaptation of tendon material properties in healthy and diseased tendons with application to rotator cuff disease
за авторством: Tilley, JMR
Опубліковано: (2012)

Quantitative electron microprobe analysis/
за авторством: 220315 Theisen, Roger
Опубліковано: (1965)

Advancing electron microscopy using deep learning
за авторством: K Chen, та інші
Опубліковано: (2024-01-01)

Fracture Resistance of 14Cr ODS Steel Exposed to a High Temperature Gas
за авторством: Anna Hojna, та інші
Опубліковано: (2017-12-01)

The irradiation resistance of oxide dispersion strengthened steels
за авторством: Burrows, C
Опубліковано: (2015)

Extrusion processing of chocolate crumb paste
за авторством: Walker, A
Опубліковано: (2012)

Endohedral fullerenes : from fundamentals to applications /
за авторством: Yang, Shangfeng, editor, та інші
Опубліковано: (2014)

Synthesis and characterisation of large area graphene
за авторством: Robertson, A, та інші
Опубліковано: (2013)

Defect characterisation in multi-crystalline silicon
за авторством: Lotharukpong, C
Опубліковано: (2015)

Advanced electron microscopy and nanomaterials : selected, peer reviewed papers from the First Joint Advanced Electron Microscopy School for Nanomaterials and the Workshop on Nanomaterials (AEM-NANOMAT '09), Saltillo (Coahuila) Mx̌ico, September 29th-October 2nd, 2009 /
за авторством: Advanced Electron Microscopy School for Nanomaterials (1st : 2009 : Saltillo (Coahuila) Mx̌ico), та інші
Опубліковано: (c201)

Lead free solders for aerospace applications
за авторством: Farinha Marques, VM
Опубліковано: (2010)

Product classes characterization at micro-scale level applied to granular wastes fractions < 20 mm: a case-study
за авторством: Daniela Rizzo, та інші
Опубліковано: (2024-07-01)

Nanoscale spectroscopy and its applications to semiconductor research /
за авторством: International Workshop on Nanoscale Spectroscopy and its Applications to Semiconductor Research (2000 : Trieste, Italy), та інші
Опубліковано: (2002)

Usage of energy- dispersial analysis in studying rocks melts
за авторством: Kudelas Duan, та інші
Опубліковано: (2001-09-01)

Optical properties and spectroscopy of nanomaterials /
за авторством: 485521 Zhang, Jin Z.
Опубліковано: (c200)

Fullerene-to-MWCNT Structural Evolution Synthesized by Arc Discharge Plasma
за авторством: Muhammad Sufi Roslan, та інші
Опубліковано: (2018-10-01)

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis : a text for biologists materials scientists, and geologist /
за авторством: Goldstein, Joseph I.
Опубліковано: (1981)