Weiter zum Inhalt
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Sprache
Alle Felder
Titel
Verfasser
Schlagwort
Signatur
ISBN/ISSN
Tag
Suchen
Erweitert
Electron ptychography. I. Expe...
Zitieren
SMS versenden
Als E-Mail versenden
Drucken
Datensatz exportieren
Exportieren nach RefWorks
Exportieren nach EndNoteWeb
Exportieren nach EndNote
Persistenter Link
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
Format:
Journal article
Veröffentlicht:
1998
Exemplare
Beschreibung
Ähnliche Einträge
Internformat
Beschreibung
Zusammenfassung:
Ähnliche Einträge
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
von: Nellist, P, et al.
Veröffentlicht: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
von: Nellist, P, et al.
Veröffentlicht: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
von: Allen, CS, et al.
Veröffentlicht: (2023)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
von: D'Alfonso, A, et al.
Veröffentlicht: (2014)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
von: Pennycook, TJ, et al.
Veröffentlicht: (2018)