تخطي إلى المحتوى
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
اللغة
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
Electron ptychography. I. Expe...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
رابط دائم
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
التنسيق:
Journal article
منشور في:
1998
المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
مواد مشابهة
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
حسب: Nellist, P, وآخرون
منشور في: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
حسب: Nellist, P, وآخرون
منشور في: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
حسب: Allen, CS, وآخرون
منشور في: (2023)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
حسب: Pennycook, TJ, وآخرون
منشور في: (2018)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
حسب: D'Alfonso, A, وآخرون
منشور في: (2014)