বিষয়বস্তু এড়িয়ে যান
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
ভাষা
সমস্ত ক্ষেত্রসমূহ
আখ্যা
লেখক
বিষয়
ডাক সংখ্যা
আইসবিএন/আইএসএসএন
ট্যাগ
অনুসন্ধান
বিস্তৃত
Electron ptychography. I. Expe...
সাইট করুন
এই পাঠটি
এই ই-মেইলটি
মুদ্রণ
নথি এক্সপোর্ট করুন
এক্সপোর্ট করুন RefWorks
এক্সপোর্ট করুন EndNoteWeb
এক্সপোর্ট করুন EndNote
স্থায়ী লিঙ্ক
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
বিন্যাস:
Journal article
প্রকাশিত:
1998
হোল্ডিংস
বিবরন
অনুরূপ উপাদানগুলি
স্টাফেদের বিবরণ দেখুন
অনুরূপ উপাদানগুলি
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
অনুযায়ী: Nellist, P, অন্যান্য
প্রকাশিত: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
অনুযায়ী: Nellist, P, অন্যান্য
প্রকাশিত: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
অনুযায়ী: Allen, CS, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2023)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
অনুযায়ী: D'Alfonso, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2014)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
অনুযায়ী: Pennycook, TJ, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2018)