Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
Electron ptychography. I. Expe...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
Dades bibliogràfiques
Autors principals:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
Format:
Journal article
Publicat:
1998
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
per: Nellist, P, et al.
Publicat: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
per: Nellist, P, et al.
Publicat: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
per: Allen, CS, et al.
Publicat: (2023)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
per: Pennycook, TJ, et al.
Publicat: (2018)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
per: D'Alfonso, A, et al.
Publicat: (2014)