Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Sprog
Alle Felter
Titel
Forfatter
Fag
Klassifikationsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Find
Udvidet
Electron ptychography. I. Expe...
Citér dette
Stav dette
Email dette
Udskriv
Eksportér post
Eksportér til RefWorks
Eksportér til EndNoteWeb
Eksportér til EndNote
Permanent link
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
Bibliografiske detaljer
Main Authors:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
Format:
Journal article
Udgivet:
1998
Beholdninger
Beskrivelse
Lignende værker
Medarbejdervisning
Lignende værker
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
af: Nellist, P, et al.
Udgivet: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
af: Nellist, P, et al.
Udgivet: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
af: Allen, CS, et al.
Udgivet: (2023)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
af: D'Alfonso, A, et al.
Udgivet: (2014)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
af: Pennycook, TJ, et al.
Udgivet: (2018)