Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Electron ptychography. I. Expe...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
Μορφή:
Journal article
Έκδοση:
1998
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
ανά: Nellist, P, κ.ά.
Έκδοση: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
ανά: Nellist, P, κ.ά.
Έκδοση: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
ανά: Allen, CS, κ.ά.
Έκδοση: (2023)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
ανά: D'Alfonso, A, κ.ά.
Έκδοση: (2014)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
ανά: Pennycook, TJ, κ.ά.
Έκδοση: (2018)