Léim chuig an ábhar
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Teanga
Gach réimse
Teideal
Údar
Ábhar
Gairmuimhir
ISBN/ISSN
Clib
AIMSIGH
CASTA
Electron ptychography. I. Expe...
Luaigh é seo
Seol mar théacs é seo
Seol é seo mar r-phost
Priontáil
Easpórtáil taifead
Easpórtáil chuig RefWorks
Easpórtáil chuig EndNoteWeb
Easpórtáil chuig EndNote
Buan-nasc
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
Sonraí bibleagrafaíochta
Príomhchruthaitheoirí:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
Formáid:
Journal article
Foilsithe / Cruthaithe:
1998
Stoc
Cur síos
Míreanna comhchosúla
Amharc foirne
Míreanna comhchosúla
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
de réir: Nellist, P, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
de réir: Nellist, P, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
de réir: Allen, CS, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2023)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
de réir: D'Alfonso, A, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2014)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
de réir: Pennycook, TJ, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2018)