Ga door naar de inhoud
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Taal
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
Electron ptychography. I. Expe...
Citeren
SMS dit
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
Permalink
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
Formaat:
Journal article
Gepubliceerd in:
1998
Exemplaren
Omschrijving
Gelijkaardige items
Personeel
Gelijkaardige items
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
door: Nellist, P, et al.
Gepubliceerd in: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
door: Nellist, P, et al.
Gepubliceerd in: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
door: Allen, CS, et al.
Gepubliceerd in: (2023)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
door: D'Alfonso, A, et al.
Gepubliceerd in: (2014)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
door: Pennycook, TJ, et al.
Gepubliceerd in: (2018)