Пропуск в контексте
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Язык
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
Electron ptychography. I. Expe...
Цитировать
Отправить по sms
Отправить на Email
Печать
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNoteWeb
Экспорт в EndNote
Постоянная ссылка
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
Библиографические подробности
Главные авторы:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
Формат:
Journal article
Опубликовано:
1998
Фонды
Описание
Схожие документы
Marc-запись
Схожие документы
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
по: Nellist, P, и др.
Опубликовано: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
по: Nellist, P, и др.
Опубликовано: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
по: Allen, CS, и др.
Опубликовано: (2023)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
по: D'Alfonso, A, и др.
Опубликовано: (2014)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
по: Pennycook, TJ, и др.
Опубликовано: (2018)