Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Vsa polja
Naslov
Avtor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Išči
Napredno
Electron ptychography. I. Expe...
Citiraj
Pošljite SMS
Pošljite email
Natisni
Izvozi zadetek
Izvozi v RefWorks
Izvozi v EndNoteWeb
Izvozi v EndNote
Permanent link
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
Bibliografske podrobnosti
Main Authors:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
Format:
Journal article
Izdano:
1998
Zaloga
Opis
Podobne knjige/članki
Knjižničarski pogled
Podobne knjige/članki
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
od: Nellist, P, et al.
Izdano: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
od: Nellist, P, et al.
Izdano: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
od: Allen, CS, et al.
Izdano: (2023)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
od: Pennycook, TJ, et al.
Izdano: (2018)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
od: D'Alfonso, A, et al.
Izdano: (2014)