Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
Electron ptychography. I. Expe...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
Electron ptychography. I. Experimental demonstration beyond the conventional resolution limits
Бібліографічні деталі
Автори:
Nellist, P
,
Rodenburg, J
Формат:
Journal article
Опубліковано:
1998
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Схожі ресурси
RESOLUTION BEYOND THE INFORMATION LIMIT IN TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (1995)
BEYOND THE CONVENTIONAL INFORMATION LIMIT - THE RELEVANT COHERENCE FUNCTION
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (1994)
Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: beyond the detector limit
за авторством: Allen, CS, та інші
Опубліковано: (2023)
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
за авторством: D'Alfonso, A, та інші
Опубліковано: (2014)
High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
за авторством: Pennycook, TJ, та інші
Опубліковано: (2018)